顯微鏡資訊：掃描電子顯微鏡上*多用途的科學(xué)儀器之一! 金子

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電子通過顯微鏡主要是可以利用高加速工作電壓之入射電子束打擊在試片后，產(chǎn)生一些相關(guān)信息二次訊號來分析以及各種不同特性，，一般的二次訊號包括直射電子、散射影響電子、二次使用電子、背向散射網(wǎng)絡(luò)電子、Auger電子及X射線等。熒光顯微鏡以紫外線為光源， 用以照射被檢物體， 使之發(fā)出熒光， 然后在顯微鏡下觀察物體的形狀及其所在位置。熒光顯微鏡用于研究細(xì)胞內(nèi)物質(zhì)的吸收、運(yùn)輸、化學(xué)物質(zhì)的分布及定位等。體視顯微鏡一臺儀器。指從不同角度觀察物體,使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。生物顯微鏡用來觀察生物切片、生物細(xì)胞、細(xì)菌以及活體組織培養(yǎng)、流質(zhì)沉淀等的觀察和研究，同時(shí)可以觀察其他透明或者半透明物體以及粉末、細(xì)小顆粒等物體。左圖所示為生產(chǎn)的倒置生物顯微鏡型，該生物顯微鏡也是食品廠、飲用水廠辦QS、HACCP認(rèn)證的必備檢驗(yàn)設(shè)備。電子顯微鏡的發(fā)展以穿透式電子顯微鏡（TEM：Transmission Electron Microscope）為*早，在1931年即已明確提出；掃描式電子顯微鏡（SEM：Scanning Electron Microscope）則在1935年提出。由于中國早期教育發(fā)展的SEM解析度未臻理想，影像數(shù)據(jù)處理及訊號處理系統(tǒng)技術(shù)企業(yè)無法實(shí)現(xiàn)突破，一直到1965年以后，SEM才正式普獲研究我國學(xué)者的青睞。此后SEM的發(fā)展具有相當(dāng)經(jīng)濟(jì)快速，不但機(jī)臺性能的大幅增加提高，且各項(xiàng)活動材料問題分析及其附件形式日益明顯增多，應(yīng)用的范圍也不斷地努力擴(kuò)大，幾乎沒有包含社會各個(gè)方面研究設(shè)計(jì)領(lǐng)域，目前主要應(yīng)用在建筑材料、機(jī)械、電機(jī)、電子產(chǎn)品材料、冶金、地質(zhì)、礦物、生物實(shí)驗(yàn)醫(yī)學(xué)、化學(xué)、物理環(huán)境等方面出現(xiàn)*多。

由于掃描電子顯微鏡（SEM）具有較大的景深（焦深），因此在研究物體表面結(jié)構(gòu)方面非常有效，如斷裂、磨損表面、涂層結(jié)構(gòu)、夾雜物等。近年來，由于技術(shù)的進(jìn)步，SEM將電子微分析儀與電子微分析儀結(jié)合起來。（它們的主要功能比較見表3-4）觀察表面結(jié)構(gòu)時(shí)， 掃描電子顯微鏡已成為*廣泛使用的科學(xué)儀器之一，用于同時(shí)定性和定量分析微觀區(qū)域